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金相顯微鏡 SC-200M

金相顯微鏡 SC-200M

簡介: SC-200M正置金相顯微鏡采用平場消色差光學系統和落射式柯拉照明系統,同時在落射照明系統中設計防反射結構,有效防止反射光干擾成像光線。具有強大的圖像處理軟件,從而使成像更清晰、視場襯度更好,成像系統還原性更好。
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  • 產品描述

    金相顯微鏡 SC-200M

     

    適用于LCD屏粒子爆破檢測 LED芯片尺寸測量檢測 手機粒子爆破 鍍層厚度分析 光纖檢測等


    SC-200M正置金相顯微鏡采用平場消色差光學系統和落射式柯拉照明系統,同時在落射照明系統中設計防反射結構,有效防止反射光干擾成像光線。具有強大的圖像處理軟件,從而使成像更清晰、視場襯度更好,成像系統還原性更好。


    標準配置放大倍率:50X 100X 200X  500X

    觀察方式:透射,反射,簡易偏光

    應用功能:拍照,錄像,測量

    應用行業:LED芯片尺寸測量,手機粒子爆破,鍍層厚度分析,光纖檢測等


    ■提供穩定可靠的操作機構,使成像更清晰,操作更簡便。

    ■顯微鏡鏡體采用全新的人機工程學設計,結構勻稱,實現鏡體擴展積木化。

    ■工作臺、光強與粗微調的低位操作,提高了使用的舒適性。

    ■廣泛應用于各類半導體硅晶片檢測、五金鍍層、材料科學研究、地質礦物分析及精密工程等學科領域。

    金相顯微鏡 SC-200M

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定制產品類型:T-型 雙排鏈條導軌金相顯微鏡 SC-200M

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